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多通道電流矩陣模塊高壓功率放大器鐵電分析儀塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 絕緣電阻率測(cè)試儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀電壓擊穿測(cè)定儀耐電弧試驗(yàn)儀探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)

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HCDJC—100KV介電擊穿電壓試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2025-01-08

型號(hào)：HCDJC—100KV

瀏覽量：2052

介電擊穿電壓試驗(yàn)儀內(nèi)部采用電磁屏蔽處理，減少干擾。設(shè)計(jì)技術(shù)，簡(jiǎn)單人性化。，。主要適用于固體絕緣材料（如：塑料、橡膠、層壓材料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等絕緣材料及絕緣件）在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓的測(cè)試。
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HCDJC—100KV華測(cè)工頻擊穿電壓試驗(yàn)設(shè)備

更新時(shí)間：2025-01-08

型號(hào)：HCDJC—100KV

瀏覽量：2363

華測(cè)工頻擊穿電壓試驗(yàn)設(shè)備，內(nèi)部采用電磁屏蔽處理，減少干擾。設(shè)計(jì)技術(shù)，簡(jiǎn)單人性化。主要適用于固體絕緣材料（如：塑料、橡膠、層壓材料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等絕緣材料及絕緣件）在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓的測(cè)試。
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HCDJC-100KV耐電壓強(qiáng)度試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2025-01-08

型號(hào)：HCDJC-100KV

瀏覽量：1890

耐電壓強(qiáng)度試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制，試驗(yàn)過程中可在線觀察試驗(yàn)曲線；自動(dòng)存儲(chǔ)試驗(yàn)條件及試驗(yàn)結(jié)果等數(shù)據(jù)，并可存取、顯示、打印。本試驗(yàn)機(jī)采用立式箱體結(jié)構(gòu)，極大的節(jié)省試驗(yàn)室內(nèi)占地空間，地腳采用滑輪結(jié)構(gòu)，方便移動(dòng)和擺放，安放時(shí)需要另配安裝臺(tái)的情況。
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HCLD-3產(chǎn)品*可靠漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2023-08-29

型號(hào)：HCLD-3

瀏覽量：1795

產(chǎn)品*可靠漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器HCLD-III為華測(cè)公司2013年重點(diǎn)科研產(chǎn)品之一，高壓漏電試驗(yàn)儀采用控制系統(tǒng)精度高，擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理，采用高壓真空切斷技術(shù)，使試驗(yàn)過程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗(yàn)的高壓切斷，使數(shù)據(jù)采集精確，同時(shí)本設(shè)備采用電力系統(tǒng)過壓過流保護(hù)裝置，使儀器。
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HCLD-3高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)符合國標(biāo)GB/T6553-2003

更新時(shí)間：2025-09-18

型號(hào)：HCLD-3

瀏覽量：1911

高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)符合國標(biāo)GB/T6553-2003，高壓漏電試驗(yàn)儀采用控制系統(tǒng)，擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理，采用高壓真空切斷技術(shù)，使試驗(yàn)過程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗(yàn)的高壓切斷，使數(shù)據(jù)采集精確，同時(shí)本設(shè)備采用電力系統(tǒng)過壓過流保護(hù)裝置。
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HCLD-III固體絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)機(jī)

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：HCLD-III

瀏覽量：1700

固體絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)機(jī)，測(cè)試儀器HCLD-III適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進(jìn)行耐電痕化和蝕損的試驗(yàn)，模擬在工頻（48Hz - 62Hz）下，用液體污染物和斜面試樣，通過耐電痕化和蝕損的測(cè)量評(píng)定環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料的耐電痕化和蝕損等級(jí)。
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HCLD-III電氣絕緣材料漏電起痕測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：HCLD-III

瀏覽量：1897

電氣絕緣材料漏電起痕測(cè)試儀，HCLD-III適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進(jìn)行耐電痕化和蝕損的試驗(yàn)，模擬在工頻（48Hz - 62Hz）下，用液體污染物和斜面試樣，通過耐電痕化和蝕損的測(cè)量評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料的耐電痕化和蝕損等級(jí)。本機(jī)是嚴(yán)格按照GB/T6553-2003 及 IEC60587-1984設(shè)計(jì)制造。
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